Abstract
<jats:p>Температура среды оказывает значительное влияние на ключевые параметры элементов электронных схем приборов, такие как сопротивление, емкость и индуктивность, и критически отражается на работе аналогово-цифровых преобразователей (АЦП), цифро-аналоговых преобразователей (ЦАП), компараторов и источников опорного напряжения. В настоящей работе рассмотрено влияние кратковременного температурного воздействия на функционирование цифровых контрольноизмерительных приборов (КИП). Экспериментально изучена зависимость погрешности измерений амперметра от температуры. Результаты показали рост приведенной погрешности от 0,040625% при 25 °C до 0,186706% при 50 °C. Разработана математическая модель, учитывающая температурные коэффициенты, нелинейные эффекты, тепловой шум Джонсона–Найквиста и погрешность квантования. Установлено соответствие результатов моделирования с экспериментальными данными с точностью 94–97 %. Полученная модель позволяет осуществлять диагностику работы КИП в различных внешних температурных условиях.</jats:p>