Abstract
<jats:p>Изучено взаимодействие излучения терагерцового спектрального диапазона с плёнками оксида индия-олова (ITO) толщиной менее 300 нм на подложках из плавленого кварца. Определена зависимость их комплексного показателя преломления в диапазоне 0,2-1,2 ТГц от толщины. Свойства плёнок в данной области хорошо описываются моделью Друде, параметры которой определены из аппроксимации данных в широком спектральном диапазоне. Модель демонстрирует линейный рост удельной проводимости с увеличением толщины и может быть полезна для расчёта антиотражающих покрытий для терагерцового излучения. Результаты исследования воздействия интенсивного терагерцового излучения с пиковой и средней интенсивностью до 2 МВт/см2 и 1,2 кВт/см2 соответственно показали отсутствие лазерного повреждения плёнок и позволили наметить границы применения плёнок ITO в качестве дихроичных зеркал транспортных каналов интенсивных терагерцовых пучков.</jats:p> <jats:p>In this work, the interaction of terahertz radiation with thin ITO films (< 300 nm) deposited on fused silica substrates was studied. The complex refractive index of the films was measured in the range of 0.2-1.2 THz. It was found that the Drude model accurately describes the dielectric properties of the films in this region. The parameters of the model were determined by fitting the experimental data across a wide spectral range, from millimeter to visible wavelengths. A linear correlation between conductivity and thickness of the film was revealed. The result is valuable for the design of antireflective coatings for terahertz radiation applications. The studies on the effects of intense terahertz radiation with peak and average intensities of up to 2 MW/cm2 and 1.2 kW/cm2, respectively, showed the absence of laser-induced damage to the films and made it possible to outline the scope of ITO films' application as dichroic mirrors in transport channels for intense terahertz beams.</jats:p>